- 仪器介绍

近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛，因此，测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中，常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。

本产品为手动方式调节仪器，测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能，调节方法，使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构，并培养其动手操作能力。

- 基本配置及参数